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Solutions complètes pour les tests thermiques de l'électronique par LIB

Sep 26, 2025

Lorsqu'il s'agit d'électronique, même de petits changements de température ou d'humidité peuvent provoquer des pannes majeures : -des joints de soudure fissurés, des revêtements dégradés ou des micropuces défectueuses. C'est pourquoi des tests environnementaux fiables et conformes aux normes-sont essentiels pour tout fabricant de produits électroniques.

 

librairieChambres d'essais thermiquessont conçus pour vous offrir un contrôle précis, rapide et stable, afin que vos produits survivent au monde réel-que ce soit en cas de chaleur extrême, de froid intense, d'humidité élevée ou de choc thermique soudain. Du cycle température-humidité à l'exposition de longue durée-à des températures élevées-et au choc instantané de l'air-à-aérien, LIB propose la gamme complète de solutions auxquelles font confiance les industries de l'aérospatiale, de l'automobile et de l'électronique dans le monde entier.

 

Solutions de chambre d'essai de température et d'humidité LIB pour les cycles thermiques et humides de l'électronique

 

 Thermal Testing of Electronics

 Thermal Testing of Electronics

 

Conformité aux normes

Les chambres de température et d'humidité LIB sont conçues pour s'aligner sur les normes mondialement reconnues afin que vos protocoles de test soient acceptés par les régulateurs, les clients et les agences de certification :

CEI 60068– Tests environnementaux pour les équipements électroniques et électriques.

OIN 16750– Conditions environnementales et tests pour les véhicules routiers, particulièrement pertinents pour les calculateurs, les capteurs et l'électronique embarquée-du véhicule.

CEI 61730– Tests de vieillissement des modules photovoltaïques et de l’électronique solaire.

 

Précision et répétabilité des tests

L'électronique est extrêmement sensible aux écarts des conditions environnementales. Les chambres LIB offrent :

Plage de température: –70 degrés à +150 degrés, programmable in fineIncréments de 0,1 degré.

Précision: Fluctuation de ± 0,5 degrés et écart de ± 2,0 degrés.

Plage d'humidité: 20 % HR à 98 % HR, maintenu à ± 2,5 % HR.

Taux de rampe: Chauffage à3 degrés/minet refroidissement à1 degré/min, minimisant les temps d'arrêt entre les cycles.

Capteurs: Sondes PT100 Classe A avecRésolution de ± 0,001 degréspour une surveillance-haute sensibilité.

 

Ces fonctionnalités permettent des tests de cyclage précis, depuis le trempage progressif-à long terme jusqu'aux rampes d'humidité rapides. Par exemple, une carte de circuit imprimé peut être cyclée entre–40 degrés et +85 degrés à 85 % d'humidité relativepour reproduire cinq années d’utilisation sur le terrain en quelques semaines seulement.

 

 Thermal Testing of Electronics

 Thermal Testing of Electronics

 Thermal Testing of Electronics

Salle de travail robuste Trou de câble Capteur de température et d'humidité

 

Solutions de test-à haute température pour l'électronique par LIB Oven

 

 Thermal Testing of Electronics

 Thermal Testing of Electronics

Nom

Four de laboratoire

Modèle

O-100

O-500

Dimension interne (mm)

400*500*500

700*800*900

Dimension hors tout (mm)

750*880*850

1100*1100*1300

Volume intérieur

100L

500L

Plage de température

A : ambiant -+250 degrés, B : ambiant -+400 degrés, C : ambiant -+900 degrés

Fluctuations de température

± 0,5 degré

Écart de température

± 2,0 degrés

Taux de chauffage

6 degrés/minute

Contrôleur

Contrôleur d'écran tactile LCD couleur PID, connexion Ethernet, liaison PC (option)

Matériau extérieur

Plaque d'acier avec revêtement protecteur

Matériau intérieur

Acier inoxydable SUS304

Isolation thermique

Mousse de polyuréthane (brique réfractaire)

Alimentation

380 V 50 Hz

Conditions environnementales

5 degrés -+35 degrés Inférieur ou égal à 85 % HR

 

Capacité à températures extrêmes

Pour les processus qui exigent des contraintes thermiques élevées, les fours environnementaux LIB offrent de larges fenêtres de travail depuisambiant jusqu'à 1200 degrés. Cela couvre diverses applications telles que :

Durcissement des polymèrespour les encapsulants ou les adhésifs dans les emballages électroniques.

Tests d'alliages métalliquespour connecteurs et boîtiers.

Vieillissement thermiquepour l'évaluation de la fiabilité des semi-conducteurs.

 

Précision opérationnelle

Stabilité: Fluctuation de ± 0,5 degrés et écart de ± 2,0 degrés à travers la chambre.

Taux de rampe: Jusqu'à6 degrés/min, réduisant considérablement les temps de cycle dans les laboratoires de production.

Chauffage uniforme : La circulation à double-ventilateur garantit l'élimination des points chauds et froids, fournissant ainsi des résultats cohérents pour chaque échantillon.

 

Normes pertinentes

CEI 60068-2-2: Tests de chaleur sèche pour les équipements électroniques.

CEI 60068-2-78 : Chaleur humide, conditions stationnaires-.

 

Construit à partir deIntérieurs en acier inoxydable SUS304avec une isolation en polyuréthane, les fours LIB maintiennent leurs performances thermiques tout en réduisant les coûts énergétiques. Cette conception robuste garantit la répétabilité dans les essais-de longue durée, ce qui les rend indispensables pour-la vérification du cycle de vie des appareils électroniques grand public, des batteries de véhicules électriques ou de l'avionique aérospatiale.

 

Solutions de tests de chocs thermiques pour l'électronique : chambres à deux-chambres et à trois-chambres par LIB

 

Chambres à choc thermique à deux -zones

 

Les LIBdeux-chambres de zonefournit une méthode de transfert direct, déplaçant les échantillons de test entre deux zones contrôlées indépendamment -une chaude et une froide. Le panier contenant les échantillons se déplace verticalement ou horizontalement entre ces zones en3 secondes ou moins, assurant une transition thermique rapide sans exposition à l'air ambiant.

 

Spécifications de base

Plage de température : –75 degrés à +220 degrés.

Temps de transfert : Inférieur ou égal à 3 s.

Temps de récupération : Inférieur ou égal à 5 ​​min après le transfert.

Précision : Fluctuation inférieure ou égale à ± 0,5 degré ; déviation inférieure ou égale à ± 3,0 degrés.

 

Applications
Les systèmes à deux -zones sont particulièrement adaptés aux semi-conducteurs, aux assemblages de circuits imprimés et à l'électronique grand public, où une exposition répétée à des cycles de chaleur et de froid extrêmes révèle des faiblesses des joints de soudure, une fatigue des matériaux et une fiabilité de liaison. Ils sont compacts, efficaces et idéaux pour les laboratoires nécessitant un cycle continu sans interruption.

 

Chambres à choc thermique à trois -zones

 

Les LIBtrois-chambres de zoneajoutez une zone ambiante dédiée en plus des zones chaudes et froides. Au lieu d'un transfert direct, les échantillons sont automatiquement parcouruschaud → ambiant → froid, oufroid → ambiant → chaud, simulant fidèlement-les transitions de température du monde réel où les produits passent progressivement par des conditions intermédiaires.

 

Spécifications de base

Plage de température : –75 degrés à +220 degrés.

Temps de transfert : Inférieur ou égal à 3 s entre zones.

Temps de récupération : Inférieur ou égal à 5 ​​min après le transfert.

Précision : Fluctuation inférieure ou égale à ± 0,5 degré ; déviation inférieure ou égale à ± 3,0 degrés.

 

Applications
Les systèmes à trois -zones sont idéaux pour l'électronique automobile, les équipements aérospatiaux et la microélectronique de défense-, où les composants subissent souvent des transitions de température soudaines mais-en plusieurs étapes, telles que des changements de température de l'extérieur-à-intérieur ou des chocs liés à l'altitude-. Ces chambres garantissent une simulation plus complète des environnements complexes par rapport aux systèmes à deux-zones.

 

Services de personnalisation,-après-vente et d'expédition pour les chambres d'essai thermiques de LIB Electronics

 

Adapté à vos besoins

Plusieurs ports de câbles, porte-échantillons et solutions de fixation.

Dimensions allant deChambres de paillasse de 100 LàSystèmes walk-in de 1 000 L.

Profils programmables avecjusqu'à 120 programmes stockéset100 pas chacun.

 

Sécurité et protection

Protection contre la surchauffe et les fuites.

Protections de séquence de phases-et verrouillages de mise à la terre.

 

Engagement après-vente-

Garantie 3 ansplus un entretien à vie.

Assistance technique anglophone-24h/24 et 7j/7.

Fourniture mondiale de-pièces de rechange etunités de remplacement gratuitessi les solutions à distance ne sont pas possibles.

 

Avec des chambres température-humidité précises, des fours à haute-température et des chambres à choc rapide, LIB offre aux fabricants de produits électroniques tout ce dont ils ont besoin pour la conformité, la durabilité et la fiabilité des produits.

 

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