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Essais de fiabilité environnementale des semi-conducteurs

Nov 23, 2020

Semi-conducteurssont très sensibles aux impuretés et à la poussière. Par conséquent, il est très nécessaire de contrôler avec précision le niveau d’impuretés et de poussière dans le processus de production compliqué. La qualité du produit final est suffisante pour chaque étape de production relativement indépendante et interactive de la production, comme la métallisation, le matériau à puce, l’emballage, etc.


En raison de l’avancement rapide de la technologie, de nouveaux matériaux et de nouveaux processus sont constamment utilisés dans les appareils nouvellement développés, et le marché continue de mettre en avant des exigences exigeantes pour le temps de conception, il est donc fondamentalement impossible d’effectuer la conception de fiabilité en fonction des produits existants. Afin d’atteindre certains indicateurs économiques, les produits semi-conducteurs sont toujours produits en grande quantité; et il n’est pas pratique de réparer les produits semi-conducteurs. Par conséquent, il est devenu une exigence très nécessaire pour les produits semi-conducteurs d’ajouter le concept de fiabilité à l’étape de la conception et de réduire les variables à l’étape de la production.

Semiconductor Environmental Reliability Testing

La fiabilité des dispositifs semi-conducteurs dépend de l’assemblage, de l’utilisation etEnvironnementConditions. Les facteurs d’influence comprennent le gaz, la poussière, la contamination, la tension, la densité du courant, la température, l’humidité, le stress, les vibrations réciproques, les vibrations graves, la pression et la force du champ électromagnétique.

Semiconductor Environmental Reliability Testing2

Essais de fiabilité environnementale des semi-conducteurs

Test de cycle de biais de température et d’humidité

■ Test de vie de biais de chaleur humide à l’état stable

Test de cuisson hautement accéléré

■ Test de durée de vie de stockage à haute température

■ Test du cycle de température

■ Test du cycle de température de power-on

■ Test de choc de température

Test de pulvérisation de sel

■ Test de vie professionnelle biais de biais de température

■ Test de vie hautement accéléré

■ Test de vie hautement accéléré sans biais

■ Test de fréquence des vibrations et des balayages


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